磁光克尔显微镜综合测试设备，显微磁畴空间分辨率优于0.5微米，磁光克尔角分辨率优于0.1毫度，支持极向克尔、纵向克尔、横向克尔三种磁光克尔效应测量方式。在追踪平面内数百万点的磁畴动态信息的同时，可搭配探针台实现电学、磁学、光学同步观测。广泛应用于磁学和自旋电子学领域中磁光克尔效应，磁滞回线，磁畴翻转或扩展动态等观测。
相较于传统的单点磁滞回线测量仪，磁光克尔综合测试平台，可以追踪平面内数百万点的实时磁性动态信息。结合该测试平台提供的直流探针，高频探针，样品的测试无比便捷。当下自旋电子学或磁学的研究，已经由磁性驱动的翻转，发展到了直流电流驱动、脉冲电流驱动、微波脉冲驱动、光驱动等一系列的激励源作用下的深度研究。
托托科技（苏州）有限公司提供的标准系统按照性能优先，稳定性优先的设计思路，可以满足实验室研究及工业生产<A>中各种相关材料的测试需求。标准设备中提供了磁场激励、电流激励等多种选项，是客户在自旋特性研究中的得力测试平台。
更多的选项可以根据客户需求选择升级。
关键技术指标 【TTT-02-Kerr Microscope】
【典型测试结果】
【应用示例】
示例1：垂直磁各向异性薄膜显微磁畴测量（铁磁性/亚铁磁性薄膜磁畴翻转）
示例2：面内磁各向异性薄膜显微磁畴测量
示例3：电流驱动的磁性翻转
示例4：二维磁性材料的自旋特性研究
示例5：梯度自旋流累积
示例6：梯度自旋流实现无场翻转
【产品亮点】
高质量磁畴成像
多激励源/多功能测试平台
高稳定性，操作便捷
【系统升级模块（基本型）】
低温系统
集成激光激励
ST-FMR
面内任意角度矢量电磁铁
【系统升级模块（高级型）】
矢量成像
低温+真空+腔内探针
【安装要求】
温度：20-40℃
湿度：RH<60%
电源：220V，50Hz